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扫描电子显微镜
2018年08月31日
 

                                                                       流水号:YQ-0081

中文名称

扫描电子显微镜

英文名称

Scanning Electron Microscope

仪器型号

JSM-6510

仪器图片

生产国别

日本

生产厂商

日本电子株式会社

联络邮箱

kyyq@hnceri.com

联络电话

010-89181270

首要用途


首要用于直接观测物质材料表面的微观形貌
适用于各种无机、有机固体导电材料

技艺指标

分辨率:二次电子像:3.0nm(30kV); 8nm (3kV);15nm (1kV);
背散射电子像:4.0nm(30kV)
真空度:≤10-4Pa;放大倍数: x 30~x 300000倍
图像电平移:±50μm (WD=10mm)

备注

 
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